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三坐标测量机不同类型测头适用环境简介

2013-06-28 10:01:20  来源:三坐标  点击:

三坐标测量机能够支持不同类型的测头系统,如触发式测头、接触式扫描测头和非接触式测头等。不同类型的测头,特点不同,适用的条件和场合也会有所区别。 测头选择基本原则: 如果只测尺寸和位置要素的情况下
    三坐标测量机能够支持不同类型的测头系统,如触发式测头、接触式扫描测头和非接触式测头等。不同类型的测头,特点不同,适用的条件和场合也会有所区别。
    测头选择基本原则:
    如果只测尺寸和位置要素的情况下,选用接触式触发测头;
    对形状和轮廓精度要求较高的情况下,选用扫描式测头;
    易变性零件、精度要求不高零件,可选用非接触式测头;
    如果考虑成本因素,可选择接触式触发测头;
    考虑扫描测头和触发测头均需要使用,需选用通用测头座;
    1、触发式测头的优势和适用场合
    触发式测头通用性强,体积小,应用简单,采购及运行成本低,适用于空间箱体类工件及已知表面的测量,如TP20、TP200。
    触发式测头特别适用于离散点的测量,当零件被关注的是尺寸间距或位置,而并不强调其形状误差,测量精力主要放在尺寸和位置精度时,触发式测头是优先选择。
    2、扫描式测头的优势和适用场合
    扫描式测头(如SP25、SP80)采点率高,高密度的采点仍旧保证良好的重复性和再现性。扫描测头适用于形状及轮廓有严格要求的零件(如叶片)。对于未知曲面的扫描,扫描测头显示出了它的独特优势:因为数字化工作方式,需要大量的点,触发式测头的采点方式显得太慢。如果是未知曲面,测量机根据已运动的轨迹来计算下一步运动的轨迹,并可根据曲率变化来计算采点密度等。

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中国拥有全套自主知识产权的三坐标测量机制造商 CMM manufacturer width own-patented interllectual property rights
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